1、深入探索:同步辐射XAFS数据分析的精髓与实战案例同步辐射XAFS(X-ray Absorption Fine Structure)数据分析是一门精密的科学技术,它通过处理复杂的归一化、E-k转换和高级分析方法,揭示材料的精细结构信息。
1、总结来说,扩展X射线吸收谱精细结构分析方法主要用于检测物质中的原子结构和化学键性质,它通过测量X射线吸收系数随能量的变化关系获取物质的结构信息,对于材料科学、环境科学、生物学和地球科学等领域的研究具有非常重要的意义。
2、利用强X射线源和荧光EXAFS技术可以测定样品中含量很少的原子(包括杂质原子)的近邻结构在有些情况下能对百万分之一含量原子进行分析。利用偏振X射线可以对有取向样品中原子键角进行测量,可测量表面结构。样品制备比较简单,不需要单晶。
3、扩展X射线吸收谱精细结构分析方法,简称EXAFS,是一种强大的结构探测手段。它的应用广泛,特别是在研究表面、吸附物种以及局域结构时表现出色。即使在常规结构分析方法失效的复杂体系,如催化剂非晶材料、液态物质和金属酶,EXAFS仍能提供关键的结构参数。
1、首先,第一章深入浅出地讲解了分析化学概论,包括高分子材料分析的任务、分析方法分类,定量分析的一般步骤,误差的定义和分类,以及有效数字和数据处理的基本知识。同时,还介绍了热分析在高分子材料中的应用。
2、第八章 电子衍射:对电子衍射技术进行了深入的分析,包括实验原理、技术特点与应用领域。第九章 透射电子显微分析:详细介绍了透射电子显微镜的原理、应用与技术特点。第十章 扫描电子显微分析与电子探针:探讨了扫描电子显微镜的原理、技术特点及其在材料分析中的应用。
3、这本图书目录涵盖了材料结构表征及其应用的深入探讨,分为多个章节,旨在帮助读者理解不同技术在材料科学中的关键作用。在第1章绪论中,首先阐述了材料结构与性能之间的紧密联系,以及基本的结构表征方法,为后续章节打下基础。
4、-7章分别聚焦于白炽灯、荧光灯、节能灯、白光发光二极管、等离子体平板显示和场发射平板显示等照明技术的荧光粉及其研究进展。 长余辉发光材料 第8章详细讨论长余辉发光材料的种类、应用、表面改性和发光机理,以及发展趋势。
1、赵贵文是一位在分析化学领域有着丰富成果的学者,他的主要论著涵盖了多个主题。1983年,他与冈本信子共同编撰了《中日英分析化学用语事典》,为中日英三国间的化学交流提供了重要参考,该书由东京的学校图书株式会社出版。